製品情報
内部短絡/開放イベント検査器 ISOEC-J1000

製品名 | 内部短絡/開放イベント検査器 |
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型式 | ISOEC-J1000 |
概要
従来の検査機では検出できない電池素子内の短絡や開放異常を検査します。直流電圧を印加し、最小1μSecのサンプリングで電池素子内に流れる電流波形を監視し、微細短絡や、開放イベントが発生しないかを検査します。
特長
電池素子の微細短絡や開放イベントを検査
主な仕様
■検査の全領域で短絡/開放イベントを検査します。
■サンプリング時間は最速1μsec
■内部抵抗測定機能を持ち合わせます。
■検査結果を見やすいグラフィックで表示します。