製品情報

検査・測定

検査・測定は32件あります。

パルステスターユニット DAPT-2100

ダイトロン株式会社

パルステスターユニット

半導体レーザーを所定のパルス幅、パルス周期にて変調駆動し、その動作電流および光出力を測定してI-L評価を行うためのユニットです。

LEDテスターユニット 

ダイトロン株式会社

LEDテスターユニット

多機能LEDドライバー

LEDプローバ 

ダイトロン株式会社

LEDプローバ

【高速タイプのチッププローバー 】 ウエハにパルス電流を印可し、電流・電圧・光出力を測定するとともに、LEDからの光をファイバーで分光器まで導き、スペクトル・...

LEDソーター 

ダイトロン株式会社

LEDソーター

グリップリング(ダイサーリング)と粘着シートで構成されたリングセット上に貼り付けられたLEDチップをチップに与えられた分類ランクデータで分類貼り付けが可能な全自...

LDチップテスター DCLT-8500

ダイトロン株式会社

LDチップテスター

本装置は、光半導体パッケージ製品の電気特性、光出力特性、波長特性等を自動的に測定し、結果を表示と良否判定を行います。

LDエージング装置 DSLD-1000Hシリーズ

ダイトロン株式会社

LDエージング装置

【高放熱性!高い安定性!スタンダードなエージング装置】 DSLD-1000Hシリーズは主に短波長LDの信頼性評価を行う装置です。

青色LDエージング装置 DSLD-480H-HV

ダイトロン株式会社

青色LDエージング装置

【進化しつづけるスタンダーモデル!高い信頼性を求めるのであればこの装置!】 主に短波長LDの信頼性評価を行う装置です。 研究開発、品質保証若しくは準量産用途と...

CANテスター(高出力対応)  DPLT-8500

ダイトロン株式会社

CANテスター(高出力対応)

本装置は、オペレータが半導体レーザーダイオードを測定ステージに手でセットすることで、電気特性、光出力特性、FFP特性、波長特性などを自動で測定するマニュアル式の...

CANテスター (低出力対応) DPLT-1300M

ダイトロン株式会社

CANテスター (低出力対応)

本装置は、半導体レーザーダイオードを測定ステージにオペレータが手でセットすることで、電気特性、光出力特性、FFP特性、波長特性等を自動で測定するマニュアル式の装...

顕微鏡ローダー 

顕微鏡ローダー

半導体基板をカセットより取出し、ミクロ検査及びマクロ検査を行う装置です。ミクロ検査では、顕微鏡の接眼レンズとディスプレイで観察を切り替える事が可能です。マクロ検...

ウェーハ厚さ測定機 TME-13型

株式会社ジャステム

ウェーハ厚さ測定機

半導体基板をカセットから取り出し設定したポイントの厚さ測定を行う装置です。

IC外観検査マーキングシステム VIM-200

ダイトロン株式会社

IC外観検査マーキングシステム

・〜φ8”ウェーハ(ウェーハ単体、リング)の搬送機構を装備し、カセットより自動供給 ・マップファイルによるマークレス検査、良品チップのみの検査、サンプリング検査...

ファイナルテスター DPLT-8300

ダイトロン株式会社

ファイナルテスター

本装置は半導体レーザーパッケージ品の電気特性、光出力特性、波長特性を自動的に測定し、結果を表示し併せて良否判定するものです。測定駆動方式はCW駆動でデバイスへの...

チップ外観検査装置 

ダイトロン株式会社

チップ外観検査装置

・LEDチップのパターンの良否を自動(画像処理装置)で外観検査し、NGチップには、マップデータ書き込み、 又は、抜き取り、マーキングの作業を高速且つ正確に行う全...

LEDモジュールテスター 

ダイトロン株式会社

LEDモジュールテスター

LEDパッケージや基板に実装されたモジュール状態で出荷検査を行う装置です。マニュアルタイプから全自動タイプまで各種取扱い。ご要望に応じ、光学&電気特性の測定ヘッ...

ウェーハ顕微鏡検査ステーション 

ダイトロン株式会社

ウェーハ顕微鏡検査ステーション

本装置は小型・デスクトップ型の顕微鏡検査ステーション装置です。 ローダーキャリアに収納されているウェーハを自動で 1 枚ずつ取り出し検査ステージに搬送し、顕微鏡...

マクロ検査顕微鏡装置 

ダイトロン株式会社

マクロ検査顕微鏡装置

・エッジハンドリングによるウェーハのマクロ・ミクロ検査装置です。 ・ウェーハ表面に接触する事無く、「ウェーハ裏面の顕微鏡検査」も可能です。

ライフタイム測定装置 LTA Series

ライフタイム測定装置

本製品は、極薄SOI/エピ/バルクウェーハやポリシリコン層の汚染・欠陥評価に威力を発揮します。ライフタイムは、試料に混入した汚染や結晶欠陥等を鋭敏に反映する重要...

レイヤー断面・接合部観察 

レイヤー断面・接合部観察

【特徴】・複合試料の断面作製に最適・ターゲットを直接観察し加工・観察最高倍率 :184倍・最小送りピッチ : 0.5 um

膜厚分布検査装置 

膜厚分布検査装置

膜厚分布測定装置は最大150万点の膜厚分布を短時間に測定できる装置です。イメージング分光器ImSpector(インスペクター)を用いて、測定対象表面の薄膜の分光...

平坦度測定器 

平坦度測定器

FT-17、FT-900 シリーズは、レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。半導体...

エッジプロファイルモニタ LEP-2200FE

エッジプロファイルモニタ

本製品は、独自の光学・画像処理技術により、エッジ・ノッチ形状の高精度測定を実現しました。LEPシリーズは、ウェーハの面取形状、オリフラ長、直径、厚さ、あるい は...

BG後ウェーハ厚み測定装置 

BG後ウェーハ厚み測定装置

バックグラインダー後のウェーハを非接触で多点の厚さ測定をします。 ※対象ウェーハ : φ200、φ300BG後のシリコンウェーハ

3次元外観検査装置 

3次元外観検査装置

多種多様な製品の高さ・表面形状を高速/高精度に測定・検査する装置です。

段差計 

段差計

表面粗さ・うねり及び段差を測定します。

圧力解析装置 

圧力解析装置

デジタルカメラにてプレスケールを画像解析します。

MEMS応力観察装置 

MEMS応力観察装置

本装置は、従来、CAE による解析しかできなかったMEMS 製品の応力分布(熱弾性応力)を非接触かつ短時間に可視化できる装置です。 高性能な赤外線カメラを用いて...

ウェーハ外観検査装置 

ウェーハ外観検査装置

本装置は、Siウェーハのマクロ検査及び、顕微鏡によるミクロ検査を行う装置です。

複合検査装置 

複合検査装置

・本測定機は、高精度・高分解能・優れた安定性を有する接触式微細形状測定機をベースに、白色干渉式検出器、レーザーオートフォーカス式検出器を一体化しました。 3種の...

シート抵抗測定検査装置 

シート抵抗測定検査装置

LED用ウェハーに対し、シート抵抗/抵抗率を測定する装置です。手動タイプから全自動タイプまでラインナップしております。センサーは、接触式/非接触式の両タイプライ...

厚さ測定機 

厚さ測定機

ED用ウェハーの厚みを測定する装置です。センサーのタイプをかえる事により、ウェハー単体、プレートに接着された状態等、様々な状態での測定が可能です。各種ニーズに合...

プルテスター・シェアテスター 

プルテスター・シェアテスター

各種取扱ございます。詳細はお問合せ下さい。

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