概要

近赤外コート@1100nm(KCM-10D-64SWIRは1200nm)を中心とした近赤外撮影用レンズ

特長

・赤外カメラ・SWIR光源との組み合わせで高倍率観察が可能
・シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部観察
・ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査
・ウェハーやフリップボンダー用位置決め
・同軸/ストレートタイプあり

主な仕様