製品情報
ハイブリッドレーザーマイクロスコープ

製品名 | ハイブリッドレーザーマイクロスコープ |
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概要
本製品は、世界初のHYBRID光学系マイクロスコープです。
二つの光学系の採用で、用途がさらに拡大。
本製品は、レーザーマイクロスコープ、カラーコンフォーカル、反射分光、膜厚測定、AFM、光干渉、
形状測定、などの機能を1台でカバーします。
レーザーマイクロスコープの持つ高倍率・高分解能・高精度3D測定機能と、カラーコンフォーカル
が持つ広視野かつリアルカラーで、豊富なアプリケーションを併せ持った、ハイブリッドレーザー
マイクロスコープです。
特長
高分解能
405nmレーザー光線による高倍率・高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化
広視野観察
一般的なレーザー顕微鏡に比べて約1.6倍の広視野観察による作業効率の向上
ナノオーダー測定
光干渉測定、反射分光膜厚測定、AFMによるナノレベル構造の測定(AFMはオプション)
波長選択
6波長からサンプルに最適な波長を選択し、様々なニーズに対応した観察・測定を実現
高精細カラー観察
カラーコンフォーカルの特長である焦点深度の深い高精細カラー画像の取得
主な仕様
観察機能 | レーザー高分解能観察,カラーコンフォーカル観察,微分干渉観察 |
測定機能 | 3D表示、高さ測定、表面粗さ、形状特徴(面積・体積・表面積など)、パッチワーク機能など |
高さ測定 | 正確さ ±(0.11+L/100)um |
再現性(σ)0.01um | |
幅測定 | 正確さ ±(0.02×{100/対物レンズ倍率}+L/100)um |
再現性(3σ)0.01um | |
フレームレート | 15Hz〜120Hz |
波長選択機能 | 436nm,486nm,514nm,546nm,578nm,633nm |
干渉測定機能 | Z軸測定精度1nm |
膜厚測定機能 | 反射型分光方式 |
簡単操作 | 全自動設定,操作ガイダンス,マクロ機能など |
オプション | 自動測定ソフト,自動検査ソフト |
その他
【用途】各種材料の観察及び形状測定:
半導体材料&デバイス、透明膜、ITO膜、MEMS、コーティング材料、フィルム、無機・有機材料、
バイオ系試料、金属部品、プラスチック加工部品など