概要

カスタム計測ユニットは下記のような多様なニーズに対応します！

• パルス印加：発熱を抑えてデバイスへ電流印加
• 大電流計測：特殊なデバイスの評価ができます
• 長時間通電：デバイスの耐久試験
• 高精度計測：高性能デバイスの評価
• 温調：温度負荷による加速度試験、温度特性評価
• システムの自動化：量産対応、生産支援
• 多ｃｈ計測：試験の効率化、時間短縮

主な仕様

ユニットブロック図

<事例>

対象デバイス
• 発光素子（レーザダイオード／LED）
• 有機EL素子パネル
• パワー半導体デバイス
• MEMSセンサー
• デジタルアナログ複合IC

カスタム回路
• 定電圧定電流電源
• 微小電流測定
• 高電圧電流測定
• 掃引印加測定 （ソフト制御）
• 短パルス印加測定

アプリケーション
• 高速サンプリング解析
• 連続通電耐久試験
• 試験効率化、多ch化
• 高機能デバイスの複合測定
• 温度特性試験