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外観検査装置

半導体素子や透明材料の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。

概要と特徴

半導体素子(LD、PD、電子デバイス等)や透明材料(レンズ等)の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。

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