概要

本製品は、LD Chipの半導体レーザーダイオードを測定ステージにセットすることで、電気特性、光出力特性、FFP特性、波長特性、NFP特性などを自動で測定する装置です。
測定した結果の表示や良否判定などはPC上に表示されます。
LD Chip デバイスに特化した装置となります。

対象デバイスと用途

～対象デバイス～

LD Chip Device

(デバイスサイズ） 幅：150μm～ 共振器長：150μm～ 厚み：70μm

～デバイス用途～

・LiDAR用LD
・通信用LD
・録再用LD
・Display用LD
・医療用LD
・センサー用LD

※そのほか実績多数あります！　詳しくはお問い合わせください。

特長

・多様な供給収納形態 (リングシート、トレイ、ゲルパック) ・ダメージレスプローブ ・画像処理による高速位置決め搭載 ・DAVIエンジン外観検査機能付き ・自動調整プローブ機能 ・多用途のデバイスに対し最適な光学系を組みあわせて提案 ・"パルス波形をダイレクトに計測" ・Ith、Vth付近の詳細計測可能 ・高速・多ポイントのI-L、I-V測定が可能 ・高速タクト測定を実現 (２sec以下)

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主な仕様

　※仕様詳細についての詳しい内容はテスターユニットのページに記載しております。

～ドライバー仕様～

～測定項目～

I-L測定
・Se測定
・Rd測定
I-V測定
波長測定
DC測定 (Ir/Vr測定)
FFP測定
NFP測定
※その他ご要望がございましたらお気軽にお問い合わせください。

～メカ要素一覧～

・品種切り替え対応デバイスローダアンローダ
・多品種対応温調ステージ
・低荷重・低接触抵抗プローブ＆ステージ
・高メンテナンス性プローブ (オートイニシャライズ機能)
・分類機構

その他多数の要素実績あり!!
※当社はカスタムメーカーのためお客様の要望にできる限りお応えした設計をすることが可能です。

～カスタマイズ例～

ドライバー、測定項目などのカスタムが可能ですのでより自由度の高い装置を実現することができます。

※お客様の要求に関して様々な項目をカスタムすることが可能です。

※詳しくはお問い合わせください。

ダイトロンに興味をもっていただけましたら！

当社では様々なデバイスを測定する環境を準備しております。
少しでも興味がございましたら、以下のページでサンプルテストのご依頼を承っております。
ぜひ、お問い合わせお願い致します。

サンプルテスト環境（例）

※詳しくはお問い合わせください。

関連製品

～装置ラインナップ～

・DCLT-9600 (Display用デバイス対応 I-L/FFP/波長/IrVf , 1 index 9st 温調付き仕様)
・DCLT-2300 (通信用デバイス対応 I-L/波長/バック光, 直動式 2st 室温＋高温仕様)
・DCLT-6300 (波長（長波長、短波長）対応 I-L/波長/バック光, 直動式 6st 室温＋高温仕様)
・DCLT-1200 (Display用デバイス対応 I-L/波長, 直動式 1st 室温 仕様)