概要

本製品は半導体レーザーダイオードの駆動及び計測ができるテスターユニットです。
デバイス用途に応じて、ドライバを選択でき、PulseやCWといった駆動・計測が可能です。
光学系と組合せることにより、電気特性だけでなく、光出力特性、FFP特性、波長特性、NFP特性などを自動で測定できます。
測定した結果の表示や良否判定などは付属のPC上に表示されます。

　　※クリックにてpdfダウンロードされます。

対象デバイスと用途

～対象デバイス～

LD Device （EEL／VCSEL）
LD Chip／ LD Bar ／ LD CAN ／ COSA、CoC等の特殊パッケージも対応可能

LED Device

～デバイス用途～

・LiDAR用LD
・通信用LD
・録再用LD
・Display用LD／LED
・医療用LD／LED
・センサー用LD

※そのほか実績多数あります！　詳しくはお問い合わせください。

特長

デバイス用途、特性に応じた最適なドライバを選択可能
光学系制御と計測組みあわせによる多様な計測が可能
顧客のご要望に合わせて測定項目をカスタムすることが可能
高速・高精度な測定精度の実現が可能
Ethernetを使用した汎用性、光学機器Option・カスタム治具での多様な特性評価

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主な仕様

～ドライバー一覧～

　Driver Line up

用途に応じてドライバを選択いただけます。上記ドライバ以外でもカスタム対応が可能です。

～測定項目～

I-L測定
・Se測定
・Rd測定
I-V測定
波長測定
DC測定 (Ir/Vr測定)
FFP測定
NFP測定
POL測定
MPD暗電流測定
※その他ご要望がございましたらお気軽にお問い合わせください。

～測定項目一覧～　※測定項目は一例です。 個別演算項目等対応可能です。

ダイトロンに興味をもっていただけましたら！

当社では様々なデバイスを測定する環境を準備しております。
少しでも興味がございましたら、以下のページでサンプルテストのご依頼を承っております。
ぜひ、お問い合わせください。

サンプルテスト環境（例）

※詳しくはお問い合わせください。

関連製品

～DALテスターユニットが搭載されている装置～

・DWP-1200 (LiDAR用VCSEL Wafer,LED Wafer対応- Spot(I/V/P)/Sweep/DC(Ir/Vr)/波長 , 温調付き仕様)
・DCLT-9600 (Display用デバイス対応 I-L/FFP/波長/IrVf , 1 index 9st 温調付き仕様)
・DCLT-2300 (通信用デバイス対応 I-L/波長/バック光, 直動式 2st 室温＋高温仕様)
・DCLT-6300 (波長（長波長、短波長）対応 I-L/波長/バック光, 直動式 6st 室温＋高温仕様)
・DCLT-1200 (Display用デバイス対応 I-L/波長, 直動式 1st 室温 仕様)
・DBLT-1200M (LiDAR用デバイス対応 I-L/NFP仕様)
・DLAT-4000RS EML (通信用デバイス対応 I-L/FFP/波長/Iph仕様)
・DAPT-2100 (LiDAR用デバイス対応 I-L仕様)