製品情報
外観検査装置
半導体素子や透明材料の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。
概要と特徴
半導体素子(LD、PD、電子デバイス等)や透明材料(レンズ等)の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。
半導体素子や透明材料の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。
半導体素子(LD、PD、電子デバイス等)や透明材料(レンズ等)の寸法測定や傷、汚れ検査を高解像度撮像、高機能画像処理によって行う装置の紹介です。