製品情報

仕事関数測定器 

製品名 仕事関数測定器

概要

本装置は、有機EL材料や高分子ポリマー、太陽電池セル、燃料電池など、導電体や半導体表面の吸着状態や金属腐食状態をケルビン法による仕事関数を測定します。高分解能でありながら1測定が10秒以内という短時間で測定できる優位性があります。
微小チップ(0.2-10mm径)が試料上を走査して非接触で仕事関数を測定して三次元像を作成します。
ケルビンプローブに光照射をして強度と波長の変化と仕事関数を測定する装置として、
基板用走査型ケルビンプローブの試料移動距離は200x200x25mm(標準)、300x300x25mm(オプション)となります。大気測定と真空対応の装置があります。

特長

・ 試料上のチップが非接触で振動して測定

  チップ径: 0.2mm〜10mm
  容易なチップ交換
  チップ‐試料間の距離をµm〜mm間で指定
  測定範囲(x・y・z): 25x25x25
             : 50x50x50mm(オプション)
  最小ステップ幅: 0.6µm/6µm
  マッピング測定

・仕事関数の相対値を測る
・分解能 1meV (チップサイズによる)
・1測定時間は10秒以内
・測定エネルギーの制限なし

主な仕様

チップ寸法:標準2mm径(0.2mm-10mmから指定可)
仕事関数分解能:1-3mV
チップ移動距離:25mm
試料移動距離(X,Y,Z):25x25x25mm(標準)50x50x25mm(オプション)
              200x200x25mm(基板用標準)
              300x300x25mm(オプション)
最小ステップ幅:0.6µm
光学架台:250x250mm
      600x900mm(基板用)
オプション:カメラ,光源,ガス導入,湿度調整・ガス雰囲気容器,大型光学架台,手動ステージ