概要
通電時の自己発熱の大きいデバイスの信頼性評価試験を行うための装置です。
装置はデバイスを搭載するカセット治具およびこれを搭載する温調ユニットと制御PCで構成されます。
特長
・通電時の自己発熱の大きいデバイスを水冷にて安定した温調にて長期試験することができます。
対象デバイス：高出力LDデバイス（モジュールなど），LED SMDpkg（UV）
主な仕様
◆高出力LDデバイス（モジュール品）
ch数：40ch/温調ユニット ×3（システム）
温度：(チラー水冷方式：参考値)-15~70℃
ドライバー仕様：13A-5V-15W
波長範囲:400~470nm
◆LED SMDpkg(UV)
ch数：200ch/温調ユニット ×4（システム）
温度：(チラー水冷方式：参考値)-20℃～+90℃
ドライバー仕様：500mA-10V (光出力計測なし)
波長範囲：200~400nm