概要
通電時の自己発熱の大きいデバイスの信頼性評価試験を行うための装置です。
装置はデバイスを搭載するカセット治具およびこれを搭載する温調ユニットと制御PCで構成されます。
特長
ペルチェ素子によるステージ温調により、通電時に自己発熱が大きいデバイスを安定して長時間通電することが可能です。
光出力測定部（PD及びフィルタ）の冷却により、デバイス光による熱を吸収し温度上昇を軽減させることで、精度の高い計測が可能です。
主な仕様
◆高出力LDデバイス（CAN-pkg品）
ch数：24ch/温調ユニット ×2（システム）
温度：+10℃～＋85℃
ドライバー仕様：5A-8V-10W
波長範囲：360~540nm