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国際画像機器展2019に出展<終了>

「国際画像機器展2019」は終了しました。
多数のご来場頂きまして、ありがとうございました。


[ 日 時 ] 2019年12月4日(水)~6日(金) 10:00~17:00
[ 場 所 ] パシフィコ横浜
[ 弊社出展ブース ] 146
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[ 出展製品 ] 

受託検査アプリケーション フォトメトリックステレオ方式による欠陥検出。
画像検査をシステムインテグレーション 要件に応じて、画像処理システムを構築致します。
産業用マルチビューワ 全てのGenICamカメラを本ソフトウェアにて接続可能 4chのカメラを1台の産業用パソコンにて取込、表示しています。
Hybrid欠陥検出システム 半導体チップの寸法測定や傷検査が誰でも簡単に行えます。
高精度外観検査をお手軽に
・自由組換え画像処理フロー
・高速長深度測定(画像処理)
・高精度測定
・ルールベース×ディープランニング機能

出展案内チラシはこちら

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受託検査アプリケーション 産業用マルチビューワ Hybrid欠陥検出システム