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解析 取扱製品一覧

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ハイブリッドレーザーマイクロスコープ 
  
本製品は、世界初のHYBRID光学系マイクロスコープです。二つの光学系の採用で、用途がさらに拡大。本製品は、レーザーマイクロスコープ、カラーコンフォーカル、反射分光、膜厚測定、AFM、光干渉、形状測定、などの機能を1台でカバーします。レーザーマイクロスコープの持つ高倍率・高分解能・高精度3D測定機能と、カラーコ..
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300mmウェーハ用顕微鏡ローダー 
ダイトロン 装置事業
300mmウェーハの搬送機能を持つ顕微鏡検査システムです。
ダイトロンオリジナル   詳細を見る
スペクトル可変シミュレーター 
  
室内に使用される太陽電池の出力を測定する為の光源として開発致しました。
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ライトソーキングテスター 
  
・ ライトソーキングに実績多数あります。・ ホットスポット試験にも対応致します。
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UVプレコンディション 
  
UV プレコンディション試験に対応します。
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ソーラーシミュレーター 
  
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レイヤー断面・接合部観察 Frontier
ダイトロン 装置事業
SEM・TEMで観察する前試料を作製します。
ダイトロンオリジナル   詳細を見る
変換効率分布測定機 
  
セル生産の様々な工程における非破壊、及び非接触での検査・測定 短絡電流密度の効率分布測定による変換効率の高いエリア、低いエリアの識別
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卓上型変換効率分布測定機 
  
・セル生産の様々な工程における非破壊、及び非接触での検査・測定・短絡電流密度の効率分布測定による変換効率の高いエリア、低いエリアの識別・6インチ以下のあらゆる太陽電池セルの測定
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レイヤー断面・接合部観察 
  
【特徴】・複合試料の断面作製に最適・ターゲットを直接観察し加工・観察最高倍率 :184倍・最小送りピッチ : 0.5 um
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膜厚分布検査装置 
  
膜厚分布測定装置は最大150万点の膜厚分布を短時間に測定できる装置です。イメージング分光器ImSpector(インスペクター)を用いて、測定対象表面の薄膜の分光スペクトルを「面」として、一度に測定し、画素ごとのスペクトルを独自アルゴリズムにより解析して、膜厚の分布を高解像度かつ高精度に測定します。 測定モードは、..
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MEMS応力観察装置 
  
本装置は、従来、CAE による解析しかできなかったMEMS 製品の応力分布(熱弾性応力)を非接触かつ短時間に可視化できる装置です。 高性能な赤外線カメラを用いて繰り返し応力のかかる小型部品の微小な温度変化を捉え、その結果を解析することで応力集中箇所の観察を可能にしました。 MEMS 製品の信頼性評価、品質改善、寿命..
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仕事関数測定器 
  
本装置は、有機EL材料や高分子ポリマー、太陽電池セル、燃料電池など、導電体や半導体表面の吸着状態や金属腐食状態をケルビン法による仕事関数を測定します。高分解能でありながら1測定が10秒以内という短時間で測定できる優位性があります。微小チップ(0.2-10mm径)が試料上を走査して非接触で仕事関数を測定して三次..
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圧力解析装置 
  
デジタルカメラにてプレスケールを画像解析します。
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エッジプロファイルモニタ LEP-2200FE
  
本製品は、独自の光学・画像処理技術により、エッジ・ノッチ形状の高精度測定を実現しました。LEPシリーズは、ウェーハの面取形状、オリフラ長、直径、厚さ、あるい はノッチ形状などを、非接触で自動測定します。
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品名 メーカー名 全体

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